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JJG 1018-2007 1Hz~2kHz标准水听器检定规程

作者:标准资料网 时间:2024-05-12 09:04:17  浏览:8688   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:1Hz~2kHz标准水听器检定规程
英文名称:Verification Regulation of Standard Hydrophones in the Frequency Range 1 Hz to 2 kHz
中标分类: 综合 >> 计量 >> 声学计量
ICS分类: 计量学和测量、物理现象 >> 声学和声学测量
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期:2007-02-28
实施日期:2007-05-28
首发日期:
作废日期:
主管部门:全国声学计量技术委员会
归口单位:全国声学计量技术委员会
起草单位:中国船舶重工集团第七一五研究所等
起草人:赵涵、费腾等
出版社:中国质检出版社
出版日期:2007-05-28
页数:28页
书号:155026·J-2235
适用范围

本规程适用于频率1Hz~2kHz标准水听器的首次检定、后续检定和使用中检验。

前言

没有内容

目录

1 范围 (1) 2 引用文献 (1) 3 术语和计量单位 (1) 3.1 水听器开路电压 (1) 3.2 水听器声压灵敏度 (1) 3.3 声压灵敏度级 (1) 3.4 振动液柱 (2) 3.5 压电补偿腔 (2) 4 概述 (2) 5 计量性能要求 (2) 5.1 工作正常性 (2) 5.2 声压灵敏度[级] (2) 5.3 声压灵敏度级频率响应 (2) 6 通用技术要求 (2) 6.1 通用要求 (2) 6.2 材料和结构 (2) 6.3 标志和出厂校准资料 (3) 7 计量器具控制 (3) 7.1 检定条件 (3) 7.2 检定项目 (4) 7.3 检定方法 (5) 7.4 检定结果的处理 (9) 7.5 检定周期 (9) 附录A 压电补偿换能器特征常数Kc 的测量方法 (10) 附录B 检定证书和检定结果通知书的内页格式 (12) 附录C 测量不确定度评定实例 (14)

引用标准

本规程引用下列文献:
GB/T3102.7—1993 《声学的量和单位》
GB/T3947—1996 《声学名词术语》
GB/T4128—1995 《声学 标准水听器》
GB/T4130—2000 《声学 水听器低频校准方法》
GJB/J3803—1999 《低频一级标准水听器检定规程》
JJF1001—1998 《通用计量术语及定义》
JJF1034—2005 《声学计量名词术语及定义》
JJF1059—1999 《测量不确定度评定与表示》
IEC60565Ed.2:2006,Underwateracoustics-Hydrophones-Calibrationinthefrequencyrange0.01Hzto1MHz
使用本规程时,应注意使用上述引用文献的现行有效版本。

所属分类: 综合 计量 声学计量 计量学和测量 物理现象 声学和声学测量
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基本信息
标准名称:自行车电镀技术条件
中标分类: 轻工、文化与生活用品 >> 钟表、自行车、缝纫机 >> 自行车
替代情况:替代QB 72-1961
发布部门:中华人民共和国轻工业部
发布日期:1991-10-17
实施日期:1992-04-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
出版社:中国轻工业出版社
出版日期:1992-04-01
页数:10页
适用范围

没有内容

前言

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目录

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引用标准

没有内容

所属分类: 轻工 文化与生活用品 钟表 自行车 缝纫机 自行车
【英文标准名称】:Semiconductordieproducts.Procurementanduse
【原文标准名称】:半导体压模产品.采购和使用
【标准号】:BSEN62258-1-2010
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2010-11-30
【实施或试行日期】:2010-11-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:组装件;芯片;组件;连接件;定义(术语);交付;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;环境测试;集成电路;材料;机械测试;采购;半导体器件;半导体;规范(验收);试验;薄片
【英文主题词】:Assemblies;Chips;Components;Connections;Definitions;Delivery;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Materials;Mechanicaltesting;Procurements;Semiconductordevices;Semiconductors;Specification(approval);Testing;Wafers
【摘要】:ThispartofIEC62258hasbeendevelopedtofacilitatetheproduction,supplyanduseofsemiconductordieproducts,including?wafers,?singulatedbaredie,?dieandwaferswithattachedconnectionstructures,?minimallyorpartiallyencapsulateddieandwafers.Thestandarddefinestheminimumrequirementsforthedatathatareneededtodescribesuchdieproductsandisintendedasanaidtothedesignofandprocurementforassembliesincorporatingdieproducts.Itcoverstherequirementsfordata,including?productidentity?productdata?diemechanicalinformation?test,quality,assemblyandreliabilityinformation?handling,shippingandstorageinformationItcoversthespecificrequirementsforthedatathatareneededtodescribethegeometricalpropertiesofdie,theirphysicalpropertiesandthemeansofconnectionnecessaryfortheiruseinthedevelopmentandmanufactureofproducts.Italsocontains,intheannexes,avocabularyandlistofcommonacronyms.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01;31_080_99
【页数】:48P;A4
【正文语种】:英语