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BS EN 160200-2-1998 电子元器件质量评定协调体系.分规范:经质量评定的微波模数电子器件.试验方法索引

作者:标准资料网 时间:2024-05-20 15:38:55  浏览:9011   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Harmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents-Sectionalspecification-Microwavemodularelectronicunitsofassessedquality-Indexoftestmethods
【原文标准名称】:电子元器件质量评定协调体系.分规范:经质量评定的微波模数电子器件.试验方法索引
【标准号】:BSEN160200-2-1998
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1998-03-15
【实施或试行日期】:1998-03-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Lists;Microwavetransistors;Microwaves;Modules;Quality;Qualityassurance;Sectionalspecification;Testing
【摘要】:ThisPart2oftheSectionalSpecificationEN160200definesstandard/referencetestmethodsforElectrical,MechanicalandVisualInspectionasprescribedinPart1oftheSectionalSpecificationEN160200andBlankDetailSpecificationEN160201forMicrowaveModularElectronicUnits(MMEUs).SectionthreeofEN160200-1detailsgeneralrequirementsfortestandmeasurementprocedures(includingenvironmentaltestrequirements).ThisStandardspecifiesawiderangeofdocumentswhichrelatetomicrowavetestmethods.ManyofwhicharenotcoveredbyIECorCECCspecifications.AlthoughanumberoftestmethodsareunderpreparationbyIECandCECCtheyareconsideredacceptableforuseinthisStandard.WheretestmethodshavebeenconsideredsuitableforinsertionintothisStandardtheyareeitherreferencedunderclause2.4-StandardTestMethodsordetailedinfullunderclause2.5-SpecialTestMethods.ExamplesofMMEUswhicharecoveredbythesetestmethodsare:-Amplifiers-Attenuators-Couplers/Powerdividers-Filters-Isolators/Circulators-Limiters-Mixers-NoiseSources-Oscillators-PhaseShifters-Switches-Transmitters(e.g.IntegratedMultichannel)GuidanceontheprimeelectricalcharacteristicstobemeasuredisgiveninannexCoftheBlankDetailSpecification(BDS)-EN160201.ThisPart2ofEN160200willbereviewedasothertestmethodsbecomeavailable.
【中国标准分类号】:L10
【国际标准分类号】:31_190
【页数】:88P;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:MethodofConcentratingandMeasuringTraceQuantitiesofCopperinHigh-PurityWaterUsedintheElectronicsIndustry
【原文标准名称】:晶体管集电极-发射极饱和电压的试验方法
【标准号】:ASTMF57-1968(1980)
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1968
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:发射极;饱和;电子工程;晶体管;电压;试验;散热器
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L42
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:


【英文标准名称】:Microbeamanalysis-Scanningelectronmicroscopy-Vocabulary.
【原文标准名称】:微光束分析.扫描电子显微术.词汇
【标准号】:NFX21-010-2009
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2009-06-01
【实施或试行日期】:2009-06-13
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:分析;砝码;分析方法;定义;耐久性;电子束;分析方法;微量分析;显微术;;术语;词汇
【英文主题词】:Analysis;Analysismethods;Definitions;Electronbeams;Methodsofanalysis;Microanalysis;Microscopy;Scanningelectronmicroscopes;Terminology;Vocabulary
【摘要】:
【中国标准分类号】:N32
【国际标准分类号】:01_040_37;37_020
【页数】:28P;A4
【正文语种】:其他